1. J. Hillier andE. G. Ramberg, J. appl. Phys.18, 48 (1947).
2. F. S. Sjöstrand in Electron Microscopy: Proc. Stockholm Conf. Sept. 1956, 120 (Almqvist and Wiksell, Uppsala 1957).
3. H. E. Huxley andG. Zubay, Proc. Europ. Reg. Conf. Electron Microscopy, Delft 1960, 703 (De Nederlandse Vereniging voor Electronenmicroscopie, Delft).
4. Siemens Elmiskop I-Information, circular 1, 4 (Siemens New York, Inc. 1960).
5. W. J. Harris, Nature196, 499 (1962).