Aspekte der Zuverlässigkeit von Halbleiterspeichern und Mikroprozessoren

Author:

Băjenescu Titu-Marius I.

Publisher

Springer Fachmedien Wiesbaden

Reference75 articles.

1. Kohonenen, T.: Content-addressable memories, 2. Aufl. Springer, Berlin (1987)

2. Friederich, C., Schmitt-Landsiedel, D.: Elektronik im Kleinen – gestern und heute: Begriffsdefinition und Hintergründe zur Nanoelektronik. In: Russer, P., et al. (Hrsg.) Nanoelektronik: Kleiner – schneller – besser, acatech Diskussion, S. 17. http://www.acatech.de/fileadmin/user_upload/Baumstruktur_nach_Website/Acatech/root/de/Publikationen/acatech_diskutiert/acatech_DISKUSSION_Nanoelektronik_WEB.pdf (2013)

3. Shivakumar, P., et al.: Modeling the effect of technology trends on the soft error rate of combinational logic. In Proc. of International Conference on Dependable Systems and Networks (2002)

4. Ströhle, D., Wilberscheid, G.: Softfehler durch Alpha-Teilchen bei dynamischen 16-K-Speichern. ntz-Archiv 1(5), 113–119 (1979)

5. Mitterer, R. W.: Halbleiterspeicher – Schrittmacher der Hochstintegration. ntz Nachr.-tech. Z. 32(6), 375–381

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