1. Albrecht, T. R., S. Akamine, T. E. Carver, C. F. Quate. J. Vac. Sci. Technol.. A8, 3386 (1990)
2. Albrecht, T. R., M. M. Dovek, M. D. Kirk, C. A. Lang, C. F. Quate, D. P. E. Smith. Appl. Phys. Lett.. 55, 1727 (1989)
3. Bai, C., T. Hashizume, D. Jeon, T. Sakurai. J. Vac. Sci. Technol.. A11, 525 (1993)
4. Bai, C. L.. Scanning Tunneling Microscopy and its Application. Springer, Heidelberg (1995)
5. Bai, C. L., J. W. Li, Z. Lin, J. Tang, C. Wang. Surface and Interface Analysis. in press (1999)