Author:
,Bartke J.,Bialkowska H.,Bock R.,Brockmann R.,Chase S. I.,Derado I.,Eckardt V.,Eschke J.,Favuzzi C.,Ferenc D.,Fleischmann B.,Fuchs M.,Gazdzicki M.,Gebauer H. J.,Gladysz E.,Guerra C.,Hansen O.,Harris J. W.,Heck W.,Humanic T.,Kadija K.,Kabana S.,Karabarbounis A.,Keidel K.,Kosiec J.,Kowalski M.,K�hmichel A.,Lahanas M.,Lee J. Y.,LeVine M.,Ljubicic A.,Margetis S.,Nappi E.,Odyniec G.,Paic G.,Panagiotou A. D.,Petridis A.,Pfennig J.,Piper A.,Posa F.,Pugh H. G.,F�hlhofer F.,Rai G.,Rauch W.,Renfordt R.,R�hrich D.,Rothard H.,Runge K.,Sandoval A.,Schmidt E.,Schmitz N.,Schmoetten E.,Schneider I.,Schroeder L. S.,Seyboth P.,Seyerlein J.,Skrzypczak E.,Spinelli P.,Stock R.,Str�bele H.,Teitelbaum L.,Thomas A.,Tonse S.,Vassileiadis G.,Vesztergombi G.,Vranic D.,Wenig S.
Publisher
Springer Science and Business Media LLC
Subject
Physics and Astronomy (miscellaneous),Engineering (miscellaneous),Physics and Astronomy (miscellaneous),Physics and Astronomy (miscellaneous)