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3. Witt, W.: Untersuchungen 2-dimensionaler Phasenübergänge mit einem hochauflösenden LEED-Diffraktometer. Ph.D. thesis, Technische Universität Clausthal (1984)
4. Telieps, W., Bauer, E.: An analytical reflection and emission UHV surface electron microscope. Ultramicroscopy 17, 57–66 (1985)
5. Kastler, A.: Un systeme de franges de diffraction à grand contraste. Rev. Opt. 29, 307–314 (1950)