Author:
Hacker H.H.,Burhenn R.,Kondo K.,Anton M.,Assmus D.,Baeumel S.,Beidler C.,Bindemann T.,Brakel R.,Cattanei G.,Dinklage A.,Dodhy A.,Dorst D.,Ehmler H.,Elsner A.,Endler M.,Engelhardt K.,Erckmann V.,Feng Y.,Fuchs C.,Gadelmeier F.,Geiger J.,Giannone L.,Grigull P.,Gruenwald G.,Grulke O.,Harmeyer E.,Hartfuss H.J.,Herrnegger F.,Hirsch M.,Hofner J.,Hollmann F.,Holzhauer E.,Igitkhanov Y.,Jaenicke R.,Karger F.,Kick M.,Kisslinger J.,Klose S.,Knauer J.,Kroiss H.,Kühner G.,Kus A.,Laqua H.,Liu R.,Maassberg H.,Marushchenko N.,McCormick K.,Michel G.,Noke F.,Ott W.,Otte M.,Pacco-Duechs M.G.,Penningsfeld F.P.,Polunovsky E.,Probst F.,Purps F.,Ruhs N.,Rust N.,Saffert N.J.,Salat A.,Sallander J.,Sardei F.,Schneider F.,Schubert M.,Sidorenko I.,Speth E.,Suess R.,Thomsen H.,Volpe F.,Wagner F.,Weller A.,Wendland C.,Werner A.,Wobig H.,Wuersching E.,Zimmermann D.
Publisher
Springer Science and Business Media LLC
Subject
General Physics and Astronomy,Physics and Astronomy (miscellaneous),General Engineering