1. J. P. Sheehan and N. Hershkowitz, J. Vac. Sci. Technol. A, 30, 031302 (2012).
2. V. A. Burdovitsin, D. B. Zolotukhin, E. M. Oks, et al., Doklady tomskogo gosudarstvennogo universiteta sistem upravleniya i radioelektroniki, 20, No. 3, 65–70 (2017).
3. H. Chen, H. Gong, and C. K. Ong, J. Appl. Phys., 76, No. 2, 806–809 (1994).
4. M. Belhaj, O. Jbara, S. Odof, et al., Scanning, 22, 352–356 (2000).
5. V. A. Burdovitsin, A. V. Medovnik, E. M. Oks, et al., Tech. Phys. Russ. J. Appl. Phys., 82, No. 10, 1424–1429 (2012).