1. J. Kiefer, T. Seeger, S. Steuer, S. Schorsch, M. C. Weikl, and A. Leipertz, Meas. Sci. Technol., 19, No. 8, 085408 (2008).
2. S. C. Eichmann, J. Kiefer, J. Benz, T. Kempf, A. Leipertz, and T. Seeger, Meas. Sci. Technol., 25, No. 7, 075503 (2014).
3. M. Hippler, Anal. Chem., 87, 7803–7809 (2015).
4. M. P. Buric, K. P. Chen, J. Falk, and S. D. Woodruff, Appl. Opt., 48, No. 22, 4424–4429 (2009).
5. M. A. Buldakov, I. I. Matrosov, B. V. Korolev, D. V. Petrov, and A. A. Tikhomirov, Zh. Prikl. Spektrosk., 80, No. 1, 128–132 (2013) [M. A. Buldakov, I. I. Matrosov, B. V. Korolev, D. V. Petrov, and A. A. Tikhomirov, J. Appl. Spectrosc., 80, No. 1, 124–128 (2013)].