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Experimental determination of the surface roughness parameter in metal films

  • Published:1985-12 Issue:12 Volume:20 Page:4514-4520
  • ISSN:0022-2461
  • Container-title:Journal of Materials Science
  • language:en
  • Short-container-title:J Mater Sci

Author:

Tellier C. R.

Publisher

Springer Science and Business Media LLC

Subject

Mechanical Engineering,Mechanics of Materials,General Materials Science

Reference23 articles.

1. K. L. Chopra, ?Thin Film Phenomena? (McGraw Hill, New York, 1969) Ch. 6.

2. T. J. Coutts, ?Electrical Conduction in Thin Metal Films? (Elsevier, Amsterdam, 1974) Ch. 6.

3. C. R. Tellier andA. J. Tosser, ?Size Effects in Thin Films? (Elsevier, Amsterdam, 1982) Ch. 1.

4. E. H. Sondheimer,Adv. Phys. 1 (1952) 1.

5. J. R. Sambles andK. C. Elsom,J. Phys. D Appl. Phys. 15 (1982) 1459.

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