Author:
Aglietta M.,Alpat B.,Alyea E. D.,Antonioli P.,Anzivino G.,Badino G.,Ban Y.,Bari G.,Basile M.,Benelli A.,Berezinsky V. S.,Bergamasco L.,Bianco S.,Bizzetti A.,Bruni G.,Cao Y.,Cara Romeo G.,Casaccia R.,Castagnoli C.,Castellina A.,Chen K.,Chen R.,Chinellato J. A.,Cifarelli L.,Cini G.,Cong S.,Contin A.,Dadikin V. L.,Dardo M.,De Silva A.,Deutsch M.,Dos Santos L. G.,Enikeev R. I.,Fabbri F. L.,Fulgione W.,Galeotti P.,Ghia P. L.,Giusti P.,Grianti F.,Gu S.,Hafen E. S.,Haridas P.,Iacobucci G.,Inoue N.,Khalchukov F. F.,Korolkova E. V.,Kortchaguin P. V.,Kortchaguin V. B.,Kudryavtsev V. A.,Landi G.,Lau K.,Lin X.,Lu L.,Ma J.,Ma Z.,Maccarrone G.,Malguin A. S.,Mao Z.,Markov M. A.,Massam T.,Mayes B.,Mengotti Silva N.,Misaki A.,Mo G. H.,Monteleoni B.,Morello C.,Moromisato J.,Nania R.,Navarra G.,Panaro L.,Parks D.,Pelfer P. G.,Periale L.,Picchi P.,Pinna P.,Pinsky L.,Pless I. A.,Pu M.,Pyrlyk J.,Qiu J.,Ryasny V. G.,Ryazhskaya O. G.,Saavedra O.,Saitoh K.,Sanders D.,Sartorelli G.,Sarwar S.,Shen D.,Talochkin V. P.,Tang H.,Tang J.,Tian W.,Trinchero G. C.,Turtelli A.,Uman I.,Vallania P.,Vernetto S.,von Goeler E.,Votano L.,Wada T.,Wang F.,Wang H.,Wang S.,Weathers R.,Weinstein R.,Widgoff M.,Xu L.,Xu Z.,Yakushev V. F.,Yamamoto I.,Yi G.,Zallo A.,Zatsepin G. T.,Zhou X.,Zhu Q.,Zhu X.,Zhuan B.,Zichichi A.
Publisher
Springer Science and Business Media LLC