Author:
Tueller J.,Krimm H. A.,Okajima T.,Barthelmy S. D.,Owens S. M.,Serlemitsos P. J.,Soong Y.,Chan K. -W.,Ogasaka Y.,Shibata R.,Tamura K.,Furuzawa A.,Tawara Y.,Kunieda H.,Yamashita K.
Reference5 articles.
1. Baumgartner, W., et al.: Proc of SPIE 4851, 945 (2003)
2. Kunieda, H., et al.: Applied Optics 40, 553 (2001)
3. Ogasaka, Y., et al.: Proc of SPIE 5900, 217 (2005)
4. Okajima, T., et al.: Proc of SPIE 5898, 452 (2005)
5. Shibata, R., et al.: Proc of SPIE 5900, 205 (2005)
Cited by
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