Messungen zum lateralen Aufl�sungsverm�gen f�r R�ntgenquanten bei der Elektronenstrahl-Mikroanalyse-Reference-Cited by-同舟云学术

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Messungen zum lateralen Aufl�sungsverm�gen f�r R�ntgenquanten bei der Elektronenstrahl-Mikroanalyse

Published:1980-09 Issue:5-6 Volume:73 Page:361-371
ISSN:0026-3672
Container-title:Mikrochimica Acta
language:de
Short-container-title:Mikrochim Acta

Author:

Weisweiler Werner,Neff Renate,Zetzmann Klaus

Publisher

Springer Science and Business Media LLC

Subject

Analytical Chemistry

Link

http://link.springer.com/content/pdf/10.1007/BF01196323.pdf

Reference10 articles.

1. H. E. Bishop, Optique des rayons X et microanalyse. Paris: Hermann. 1966. S. 112, 153.

2. H. E. Bishop, Brit. J. Appl. Phys.18, 703 (1967).

3. P. Duncumb, Proc. 25th Ann. Meeting of EMAG (1977).

4. R. Castaing und J. Deschamps, J. phys. Radium16, 304 (1955).

5. R. Castaing und J. Henoc, Optique des rayons X et microanalyse. Paris: Hermann. 1966. S. 120.

Cited by 2 articles. 订阅此论文施引文献订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献

1. Untersuchungen zur quantitativen Mikrobereichsanalyse metallischer Einzelpartikel mit der Elektronenstrahl-Mikrosonde;Mikrochimica Acta;1982-05

2. Elektronenstrahl-Mikroanalyse d�nner Schichten im Submikronbereich;Mikrochimica Acta;1980-09

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