Analysis of Layers: X-Ray Maps of Change in Thickness Obtained by Electron Macroprobe-Reference-Cited by-同舟云学术

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Analysis of Layers: X-Ray Maps of Change in Thickness Obtained by Electron Macroprobe

Published:1996 Issue: Volume: Page:611-622
ISSN:
Container-title:Microbeam and Nanobeam Analysis
language:
Short-container-title:

Author:

Viale D.,Petitgand G.

Publisher

Springer Vienna

Link

http://link.springer.com/content/pdf/10.1007/978-3-7091-6555-3_57

Reference12 articles.

1. 3rd European Workshop on “Modern developments and applications in microbeam analysis” EMAS’93, 9–13 May 1993, Rimini.

2. A. Armigliato, L. Van’t dack, H. W. Werner, J. Wernisch (eds.), Mikrochim. Acta 1994, 114/115.

3. R. Castaing, Thèse, Université de Paris, 1951.

4. K. Murata, M. Kotera, K. Nagami, J. Appl. Phys. 1993, 54, 1110.

5. P. Duncumb, Mikrochim. Acta 1994, 114/115, 3.

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