1. M. Fialin, J. Henoc, G. Remond, Scanning Micros. [Suppl.] 1993, 7, 153.
2. G. Remond, J. L. Campbell, in: Microbeam Analysis (J. R. Michael, P. Ingram, eds) San Francisco Press, San Francisco, 1990, pp. 59–66.
3. G. Remond, J. L. Campbell, R. H. Packwood, M. Fialin, Scanning Microsc.
1993, [Suppl.], 89
4. S. I. Salem, G. M. Hockney, P. L. Lee, Physical Rev. A
1976, 13, 330.
5. S. I. Salem, B. L. Scott, Physical Rev. A
1974, 29, 690.