Electro-thermal Simulations of Strained-Si MOSFETs under ESD conditions-Reference-Cited by-同舟云学术

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Electro-thermal Simulations of Strained-Si MOSFETs under ESD conditions

Published:2004 Issue: Volume: Page:207-210
ISSN:
Container-title:Simulation of Semiconductor Processes and Devices 2004
language:
Short-container-title:

Author:

Chun Jung-Hoon,Choi Chang-Hoon,Dutton Robert W.

Publisher

Springer Vienna

Link

http://link.springer.com/content/pdf/10.1007/978-3-7091-0624-2_47

Reference10 articles.

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