Deposition of Amorphous Hydrogenated Silicon (α-Si:H): in situ Gas Analysis by Time-of-Flight Mass Spectrometry
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Publisher
Springer Vienna
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http://link.springer.com/content/pdf/10.1007/978-3-7091-6357-3_23.pdf
Reference12 articles.
1. Street RA (1991) Hydrogenated Amorphous Silicon. Cambridge University Press
2. Cf. e.g. Veprek S, Veprek-Heijman MGJ (1991) Plasma Chem Plasma Proc 11: 332 and Dietrich TR, Chiussi S, Marek M, Roth A, Comes FJ (1991) J Phys Chem 95: 9302
3. Claasen WAP (1989) Thin Solid Films 168: 89
4. Mollekopf G (1993) PhD Thesis, University of Heidelberg, Germany
5. Bock H, Ensslin W, Feher F, Freund R (1976) J Amer Chem Soc 98: 668
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