1. Wolter H (1952) Ann Phys 10(6):94–114
2. Thieme J, Guttmann P, Niemeyer J, Schneider G, David C, Niemann B, Rudolph D, Schmahl G (1992) Nachr Chem Techn Lab 40(5):562–563
3. Rudolph D, Schneider G, Guttmann P, Schmahl G, Niemann B, Thieme J (1992) In: Michette AG, Morrison GR, Buckley CJ (eds) X-Ray Microscopy III. Springer, Berlin, pp 392–396
4. Thieme J, David C, Fay N, Kaulich B, Medenwaldt R, Hettwer M, Guttmann G, Kögler U, Schneider G, Rudolph D, Schmahl G (1993) In: X-Ray Microscopy IV, to be published
5. Schmahl G, Rudolph D, Niemann B, Guttmann P, Thieme J, Schneider G, David C, Diehl M, Wilhein T (1993) Optik 93(3):95–102