Detection Methods

Author:

Graff Klaus

Publisher

Springer Berlin Heidelberg

Reference67 articles.

1. D.K. Schroder: Semiconductor Material and Device Characterization (Wiley, New York 1990)

2. D.K. Schroder: Analysis of Microelectronic Materials and Devices, ed. by M. Grasserbauer, H.W. Werner (Wiley, Chichester 1991)

3. P.F. Schmidt, C.W. Pearce: J. Electrochem. Soc. 128, 630 (1981)

4. Springer Ser. Surf. Sci.,1992

5. A. Corradi, M. Domenici, A. Guaglio: J. Cryst. Growth 89, 39 (1988)

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