Variations over Test Suite Reduction

Author:

Güttinger Dennis,Kozyura Vitaly,Kremer Dominik,Wieczorek Sebastian

Publisher

Springer Berlin Heidelberg

Reference14 articles.

1. Black, J., Melachrinoudis, E., Kaeli, D.: Bi-criteria models for all-uses test suite reduction. In: Proceedings of the 26th International Conference on Software Engineering, ICSE 2004, pp. 106–115. IEEE Computer Society, Washington, DC (2004)

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