Process Aware Ultra-High-Speed Hybrid Sensing Technique for Low Power Near-Threshold SRAM
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Publisher
Springer Berlin Heidelberg
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http://link.springer.com/content/pdf/10.1007/978-3-642-42024-5_1
Reference12 articles.
1. International Technological Road Map Survey ITRS (2009)
2. Bhavnaganuala, A.J., et al.: IEEE Journal of Solid-State Circuits, 658-665 (2001)
3. Heald, R., Wang, P.: Variability in sub-100nm SRAM designs. In: ICCAD, pp. 347–352 (2004)
4. Houle, R.: Simple statistical analysis techniques to determine minimum sense amp set times. In: CICC, pp. 37–40 (2007)
5. Abu-Rahma, M.H., et al.: A methodology for statistical estimation of read access yield in SRAMs. In: DAC, pp. 205–210 (2008)
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