Anwendung der RFA in der Silikatindustrie

Author:

Dümecke Gerhard,Mudrack Dieter,Höppner Klaus

Publisher

Springer Berlin Heidelberg

Reference28 articles.

1. Caimann, V., u. E. Winter: Praktische Anwendung eines Korrekturverfahrens zur Beseitigung von Interelementeffekten bei der Röntgenspektralanalyse von Gläsern. Glastechn. Ber. 44 (1971) 12, S. 519–528

2. Austin, M. J., W.W. Fletcher, K. Hickson u. R.J. Leech: Mathematical correction of matrix effects in the x-ray fluorescence analysis of soda-lime-silica glasses. Glass Technology 12 (1971) 3, S. 65–71

3. Ramsauer, R.: Anwendung des Schlierenmikroskops zur Untersuchung der Schichtung von Tafelglas. Glastechn. Ber. 27 (1954), S. 374

4. Harvey, P. K., D. M. Taylor, R. D. Hendry u. F. Bancroft: An accurate fusion method for the analysis of rocks and chemically related materials by x-ray fluorescence spectrometry. X-Ray Spectrom. 2 (1973), S. 33–44

5. Seidel, G., H. Huckauf u. J. Stark: Technologie der Bindebaustoffe, Bd. 3. Berlin: VEB Verlag für Bauwesen 1978

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