Extended X-Ray Reflectivity Analysis of Si(111)7×7-Reference-Cited by-同舟云学术

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Extended X-Ray Reflectivity Analysis of Si(111)7×7

Published:1992 Issue: Volume: Page:51-55
ISSN:0930-8989
Container-title:Springer Proceedings in Physics
language:
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Author:

Robinson I. K.,Vlieg E.

Publisher

Springer Berlin Heidelberg

Link

http://link.springer.com/content/pdf/10.1007/978-3-642-77144-6_10.pdf

Reference17 articles.

1. J. Als-Nielsen, in Handbook on Synchrotron Radiation, vol. III, ed. D. E. Moncton and G. S. Brown (Elsevier, North-Holland, 1991).

2. M. K. Sanyal, S. K. Sinha, K. G. Huang and B. M. Ocko, Phys. Rev. Lett. 66 628 (1991)

3. S. K. Sinha, these proceedings (following paper).

4. I. K. Robinson, Phys. Rev. B 33 3830 (1986).

5. M. von Laue, Annalen d. Physik (folge V) 26 62 (1936).

Cited by 3 articles. 订阅此论文施引文献订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献

1. Dynamics at Surfaces;Surface and Interface Science;2013-11-13

2. Thermal dynamics at surfaces;Annalen der Physik;2009-10-05

3. Thin film and surface characterization by specular X-ray reflectivity;Critical Reviews in Solid State and Materials Sciences;1997-03

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