Haftfestigkeit und MikroStruktur der Schichten, Vorbehandlung der Substrate

Author:

Haefer René A.

Publisher

Springer Berlin Heidelberg

Reference108 articles.

1. Mattox,D.M.; In: Mittal,K.L. (ed): Adhesion measurement of thin films,thick films and bulk coating. Am. Soc. Test. Mater. (1978) 54–62

2. Neugebauer, C.; In: Maissel, L.; Glang, R. (eds): Handbook of thin film technology. New York: McGraw-Hill 1970

3. Mattox,D.M.: Thin Solid Films 18 (1973) 173

4. Lloyd,J.R.; Nakahara,S.: J. Vac. Sci. Technol. 14 (1977) 655

5. Paulson,G.G., Friedberg,A.C.; Thin Solid Films 5 (1970) 47

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