Author:
Miersch W.-D.,Rübben H.,Deutz F. J.,Enger S.,Recker F.,Tanke H. J.,de Goey R.,Jonas U.,Stöckle M.,Mlynek M.-L.,Cevc G.,Hartung R.,Kropp W.,Rammal E.,Feichtinger J.,Jakse G.,Mack D.,Günther M.,Schubert G. E.,Bussemakers M. J. G.,Schalken J. A.,Kurth K. H.,Feitz W. F. J.,Debruyne F. M. J.,Bloemers H. P. J.,Van de Ven W. J. M.,Karthaus H. F. M.,Mallmann P.,Brühl P.,Hermanns M.,Tachibana M.,Tazaki H.,Nakamura S.,Wolf G.,Scherberich J. E.,Karich H.,Fischer P.,Schoeppe W.,Jonas D.,Hanke P.,Huland H.,Klosterhalfen H.,Otto U.,Schneider A. W.,Baisch H.,Klöppel G.,Hammerer P.,van Moorselaar R. J. A.,Peelen W. P.,Hendriks B. Th.,Beniers A. J. M. C.,Naito S.,Fidler I. J.,Heicappell R.,Marumo K.,Baba S.,Deguchi N.,Rassweiler J.,Roeren Th.,Kauffmann G. W.,Richter G. M.,Schmitz-Dräger B. J.,Rohde D.,Peschkes C.,Ackermann R.,Valet G.,Lehmer A.,Kahle H.,Leyh H.,Huland H.
Publisher
Springer Berlin Heidelberg