1. Ammann N (1994) Quantitative Tiefenprofilanalyse mit der Elektronenstrahlmikrosonde – Entwicklung der Technik und Untersuchungen zur Diffusion von Gallium in ZnSe/GaAs (Quantitative depth profile analysis by applying electron beam micro sensors – development of the technique and investigations on the diffusion of gallium in ZnSe/GaAs). Thesis RWTH Aachen, VDI-Verlag, Düsseldorf (in German)
2. Bargel H-J, Schulze G (eds) (1988) Werkstoffkunde (Materials science), 5th edn. Düsseldorf, VDI-Verlag. (in German)
3. Borbe C (2001) Bauteilverhalten hartgedrehter Funktionsflächen (Component behaviour of hard turned functional faces). Thesis Universität Hannover, Fortschritt-Berichte VDI, Reihe 2, Nr. 583, Berichte aus dem Institut für Fertigungstechnik und Spanende Werkzeugmaschinen, Universität Hannover, VDI-Verlag, Düsseldorf (in German)
4. Briggs D, Grant JT (eds) (2003) Surface analysis by Auger and X-ray photoelectron spectroscopy. IM Publications, Charlton
5. Brinksmeier E (1982) Randzonenanalyse geschliffener Werkstücke (Subsurface analysis of ground workpieces). Thesis, Universität Hannover, Hannover (in German)