Extracting Correlated Patterns on Multicore Architectures

Author:

Casali Alain,Ernst Christian

Publisher

Springer Berlin Heidelberg

Reference15 articles.

1. Casali, A., Ernst, C.: Discovering correlated parameters in semiconductor manufacturing processes: A data mining approach. IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing 25(1), 118–127 (2012)

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4. Mitchell, J.C.: Foundations for programming languages. Foundation of computing series. MIT Press (1996)

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