Sensor Technology for Scanning Probe Microscopy
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Publisher
Springer Berlin Heidelberg
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http://link.springer.com/content/pdf/10.1007/978-3-642-35792-3_4
Reference189 articles.
1. Binnig G, Rohrer H, Gerber C, Weibel E (1981) Tunneling through a controllable vacuum gap. Appl Phys Lett 40:178–180
2. Binnig G, Rohrer H (1982) Scanning tunneling microscopy. Helv Phys Acta 55:726
3. Binnig G, Rohrer H, Gerber C, Weibel E (1982) Surface studies by scanning tunneling microscopy. Phys Rev Lett 49:57–61
4. Binnig G, Quate CF, Gerber C (1986) Atomic force microscope. Phys Rev Lett 56:930–933, 1986
5. Wiesendanger R (1994) Scanning probe microscopy and spectroscopy. Cambridge University Press
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