Author:
Linhardt Robert J.,Abell C. W.,Denney R. M.,Altrock B. W.,Auerbach R.,Bernal S. D.,Canfield R. E.,Ehrlich P. H.,Moyle W. R.,Chan T. S.,Chang T. W.,Chang N. T.,Cidlowski J. A.,Viceps M. D.,Cote R. J.,Morrissey D. M.,Houghton A. N.,Beattie E. J.,Oettgen H. F.,Old L. J.,Croce C. M.,Cubicciotti R. S.,Karu A. E.,Krauss R. M.,Cullor J. S.,Deutsch A.,Brandwein H.,Platt H.,Hunter D. M.,Dubitsky A.,Durham S. M.,Dolbeare F. A.,Gray J. W.,Dreesman G. R.,Kendall C. E.,Egrie J. C.,Frackelton A. R.,Eisen H. N.,Ross A. H.,Gay S.,Geirnaert G.,Geltosky J. E.,Goldberg E. H.,Goldwasser E.,Kavinsky C.,Weiss T. L.,Gratzner H. G.,Hampar B.,Zweig M.,Showalter S. D.,Handley H. H.,Glassy M. C.,Hagiwara Y.,Hagiwara H.,Huang C. M.,Cohen S. N.,Hughes J. V.,Scolnick E. M.,Tomassini J. E.,Jefferis R.,Steensgaard J.,Kaplan H. S.,Teng N. N. H.,Earn K. S.,Calvo R. F.,Kass L.,Kettman J. R.,Norgard M. V.,Khazaeli M. B.,Beierwaltes W. H.,England B. G.,Kung P. C.,Goldstein G.,Lanier L.,Phillips J.,Lanier L.,Warner N. L.,Larrick J. W.,Raubitschek A. R.,Truitt K. E.,Lazarus H.,Schwaber J. F.,Lewicki J.,Lewis C.,Olander J. V.,Tolbert W. R.,Milford E. L.,Carpenter C. B.,Paradysz J. M.,Mosher D. F.,Mulshine J. L.,Minna J. D.,Murray K. A.,Neville D. M.,Youle R. J.,Neville D. M.,Youle R. J.,Nicolson M.,Pastan I.,Willingham M. C.,Fitzgerald D. J.,Pucci A.,Smithyman A. M.,Slade M. B.,French P. W.,Wijffels G.,Pukel C. S.,Lloyd K. O.,Travassos L. R.,Dippold W. G.,Oettgen H. F.,Old L. J.,Reckel R. P.,Harris J. L.,Wellerson R.,Shaw S. M.,Kaplan P. M.,Reinherz E. L.,Schlossman S. F.,Mener S. C.,Sakamoto J.,Cordon C. C.,Friedman E.,Finstad C. L.,Enker W. E.,Melamed M. R.,Lloyd K. O.,Oettgen J. F.,Old L. J.,Scannon P. J.,Spitler L. E.,Lee H. M.,Kawahata R. T.,Mischak R. P.,Schlom J.,Colcher D.,Nuti M.,Hand P. H.,Austin F.,Shockman G. D.,Jackson D. E.,Wong W.,Steplewski Z.,Koprowski H.,Herlyn M.,Strand M.,Trowbridge I. S.,Urdal D. L.,March C. J.,Dower S. K.,Wands J. R.,Zurawski V. R.,White C. A.,Dulbecco R.,Allen W. R.,Arnold E. C.,Flasher M.,Freedman H. H.,Heath T. D.,Shek P.,Papahadjopoulos D.,Ikeda M.,Sakamoto S.,Suzuki K.,Kuboyama M.,Harada Y.,Kawashiri A.,Takahashi E.,Lee H. S.,Margel S.,Neville D. M.,Youle R. J.,Nowinski R. C.,Hoffman A. S.,Peterson J. W.,Platt K. B.,Reed D. E.,Real F. X.,Mattes M. J.,Houghton A. N.,Livingston P. O.,Lloyd K. O.,Oettgen H. F.,Old L. J.,Rembaum A.,Yen R. C. K.,Rosenstein R.,Schneider B.