1. D. Taniyama, K. Kano, K. Okamoto, M. Fujioka, and Y. Mitsuoka, EU Pat. Appl. 2277881.
2. B. Egner, F. Giordanetto, and I. Tord, US Pat. Appl. 2008306055.
3. J. D. Ginn, D. R. Marshall, R. Sibley, R. J. Sorcek, E. R. R. Young, and Y. Zhang, US Pat. Appl. 2012178752.
4. M. B. Arnold, D. M. Bender, T. J. Bleisch, W. D. Jones, P. L. Ornstein, H. Zarrinmayeh, and D. M. Zimmerman, US Pat. Appl. 6617351.
5. N. Bailey, M. J. Bamford, D. K. Dean, P. L. Pickering, D. M. Wilson, and J. Witherington, US Pat. Appl. 2007060566.