An Introduction to Reflection High Energy Electron Diffraction-Reference-Cited by-同舟云学术

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An Introduction to Reflection High Energy Electron Diffraction

Published:1988 Issue: Volume: Page:159-184
ISSN:
Container-title:Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods
language:
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Author:

Dobson Peter J.

Publisher

Springer US

Link

http://link.springer.com/content/pdf/10.1007/978-1-4615-9537-3_10.pdf

Reference47 articles.

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1. Thermal stability of Nb thin films on sapphire;Journal of Materials Research;1996-05

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