1. P. M. Alt and P. Pleshko, IEEE Trans. ED-21, 146–155 (1974).
2. J. R. Hughes, IEE Proc. 133, 145–151 (1986).
3. T. J. Scheffer and J. Nehring, Appl. Phys. Lett. 45, 1021 (1984).
4. K. Katoh, Y. Endo, M. Akatsuka, M. Ohhawara, and K. Sawada. Jpn. J. Appl. Phys. 26, L1784 (1987).
5. N. Kimura, T. Shinomiya, K. Yamamoto, Y. Ichimura, K. Nakahawa, Y. Ishi, and M. Matsunra. SID 19th International Symposium Digest of Technical Papers, p. 49 (1988).