Inverse-Photoemission Studies of Clean and Metal-Covered Semiconductor Surfaces

Author:

Reihl B.,Magnusson K. O.,Nicholls J. M.,Perfetti P.,Salvan F.

Publisher

Springer US

Reference95 articles.

1. *) Present address: Royal Institute of Technology, Material Science, 10044 Stockholm, Sweden. #) Permanent address: Istituto di Struttura della Materia, CNR, Via E. Fermi 38, 00044 Frascati, Italy. **) Permanent address: Faculte des Sciences du Luminy, Departement de Physique, Case 901, 13288 Marseille Cedex 9, France.

2. B. Reihl, Surf. Sci. 162:1 (1985).

3. J.M. Nicholls, F. Salvan, and B. Reihl, Phys. Rev. B 34:2945 (1986).

4. J.M. Nicholls, J.E. Northrup, and B. Reihl, Phys. Rev. B 35:4137 (1987).

5. I.P. Batra, J.M. Nicholls, and B. Reihl, J. Vac. Sci. Technol. A 5:898 (1987).

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