Scanning Acoustic Microscopy as a Non-Destructive Technique for Process Monitoring of High Power Semiconductor Devices
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Publisher
Springer US
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http://link.springer.com/content/pdf/10.1007/978-1-4615-3370-2_114.pdf
Reference3 articles.
1. I.R. Smith, R.A. Harvey, and D.J. Fathers, An acoustic microscope for industrial applications, IEEE Trans. Son. Ultras., vol. SU-32, pp. 274 – 278 (1985).
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Cited by 1 articles. 订阅此论文施引文献 订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献
1. Scanning Acoustic Microscopy?recent applications in materials science;Advanced Materials;1993-07
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