The Characterization of Modulated Metallic Structures by X-Ray Diffraction

Author:

Clarke Roy

Publisher

Springer US

Reference63 articles.

1. L. Esaki and R. Tsu, IBM J. Res. Dev. 14, 61 (1970).

2. For a comprehensive review, see Synthetic Modulated Structures, eds. L.L. Chang and B.C. Giessen (Academic, New York, 1985); see also papers in Surface Science 142, (1984).

3. L. Esaki, Proceedings of the 17th International Conference on the Physics of Semiconductors, eds. J.D. Chadi and W.A. Harrison (Springer-Verlag, New York, 1985) p. 473.

4. Inst. Phys. Conf. Ser. No. 56;C Weisbuch,1981

5. For a recent review, see L. Esaki, IEEE J. Quantum Electron 22, 1611 (1986).

Cited by 1 articles. 订阅此论文施引文献 订阅此论文施引文献,注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献,订阅后可以查看论文全部施引文献

1. In-Plane structure and properties of Fe multilayers;Metallurgical Transactions A;1992-04

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