More-than-Moore Technology Opportunities: 3D SiP

Author:

Radojcic Riko

Publisher

Springer International Publishing

Reference48 articles.

1. Amagai M, Suzuki Y (2010) TSV stress testing and modeling. In: IEEE 60th electronic components and technology conference (ECTC)

2. Amkor, Flip Stack CSP. http://www.amkor.com/go/packaging/all-packages/flipstackand174-csp/flipstackand174-csp . Accessed 25 Nov 2016

3. ASE, SiP|Hybrid (W/B + Flip Chip). http://www.aseglobal.com/en/Products/4-1-6-7.asp . Accessed 25 Nov 2016

4. Braun T (2016) Foldable fan-out wafer level package electronic components and technology conference (ECTC), 2016 IEEE 66th

5. Chan WT et al (2016) Revisiting 3DIC benefit with multiple tiers. In: 18th system level interconnect prediction workshop (SLIP)

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