1. T. Matsuyama, M. Tanaka, S. Tsuda, S. Nakano, Y. Kuwano, Jpn. J. Appl. Phys. 32, 3720 (1993)
2. M.J. Keevers, T.L. Young, U. Schubert, M.A. Green, in Proc. 22nd EU PVSEC, Milan (2007), p. 1783
3. I. Gordon, D. Van Gestel, L. Carnel, G. Beaucarne, J. Poortmans, K.Y. Lee, P. Dogan, B. Gorka, C. Becker, F. Fenske, B. Rau, S. Gall, B. Rech, J. Plentz, F. Falk, D. Le Bellac, in Proc. 22nd EU PVSEC, Milan (2007), p. 1890
4. G. Beaucarne, F. Duerinckx, I. Kuzma, K. Van Nieuwenhuysen, H.J. Kim, J. Poortmans, Thin Solid Films 511–512, 533 (2006)
5. B. Pécz, L. Dobos, D. Panknin, W. Skorupa, C. Lioutas, N. Vouroutzis, Appl. Surf. Sci. 242, 185 (2005)