Deconvolution of X-ray Diffraction Profiles Using Genetic Algorithms and Differential Evolution

Author:

Santos Sidolina P.,Gomez-Pulido Juan A.,Sanchez-Bajo Florentino

Publisher

Springer International Publishing

Reference13 articles.

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2. Enzo, S., et al.: A profile-fitting procedure for analysis of broadened x-ray diffraction peaks. Journal of Applied Crystallography 21, 536–542 (1988)

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