Recent Progress in XAFS Study for Semiconducting Thin Films

Author:

Miyanaga Takafumi,Azuhata Takashi

Publisher

Springer International Publishing

Reference34 articles.

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2. C.S. Schnohr, M.C. Ridgway, X-ray Absorption Spectroscopy of Semiconductors (Springer, Heidelberg, 2015)

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5. http://www.exafsco.com/techpapers/index.html

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