1. O. Brümmer, Mikroanalyse mit Elektronen- und Ionensonden (VEB Deutscher Verlag für Grundstoffindustrie, Leipzig, 1977)
2. H. Bubert, H. Jenett, Surface and Thin Film Analysis; A compendium of Principles, Instrumentation, and Applications (Wiley, Weinheim, 2002), p. 86
3. S.E. Johannson, D. Campbell, Particle-induced X-Ray Emission spectrometry (Wiley, Malmquist, 1995)
4. K.H.A. Janssens, F.C.V. Adams, A. Rindby, Microscopic X-ray Fluorescence Analysis (Wiley, London, 2000)
5. M. Thompson, M.D. Baker, A. Christie, J.F. Tyson, Auger Electron Spectroscopy (Wiley, Chichester, 1985)