Microstructural Characterization of Ti-6Al-4V Metal Chips by Focused Ion Beam and Transmission Electron Microscopy

Author:

Schneider Judy,Dong Lei,Howe Jane Y.,Meyer Harry M.

Publisher

Springer Science and Business Media LLC

Subject

Metals and Alloys,Mechanics of Materials,Condensed Matter Physics

Reference21 articles.

1. G. Lutjering and J.C. Williams: Titanium, 2nd ed., Springer-Verlag, Berlin, 2007.

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