Profiling of Fiber Texture Gradients by Anomalous X-ray Diffraction

Author:

Birkholz M.,Darowski N.,Zizak I.

Publisher

Springer Berlin Heidelberg

Reference26 articles.

1. E. S. Machlin: The Relationship Between Thin Film Processing and Structure, (Giro Press, Croton-on-Hudson, 1995).

2. H.-J. Bunge: Texture Analysis in Materials Science (Butterworth, London, 1982).

3. H.-R. Wenk and P. van Houtte: Rep. Prog. Phys. 67, 1367(2004).

4. D. Chateigner: Combined Analysis: Structure-texture-microstructure-phase-stresses-reflectivity determination by x-ray and neutron scattering, www.ecole.ensicaen.fr/~chateign/texture/combined.pdf(2005).

5. M. Birkholz: Thin Film Analysis by X-ray Scattering (Wiley-VCH, Weinheim, 2006).

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