High-Frequency Dynamic Force Microscopy
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Publisher
Springer Berlin Heidelberg
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http://link.springer.com/content/pdf/10.1007/978-3-540-37316-2_5
Reference47 articles.
1. Binnig G, Quate CF, Gerber C (1986) Atomic force microscope. Phys Rev Lett 56:930
2. Giessibl FJ (1995) Atomic resolution of the silicon(111) 7 × 7 surface by atomic force microscopy. Science 267:68
3. Giessibl FJ (2003) Advances in atomic force microscopy. Rev Mod Phys 75:949
4. Albrecht TR, Grütter P, Horne D, Rugar D (1991) Frequency modulation detection using high-Q cantilevers for enhanced force microscope sensitivity. J Appl Phys 69:668
5. Akamine S, Barrett RC, Quate CF (1990) Improved atomic force microscope images using microcantilevers with sharp tips. Appl Phys Lett 57:316
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