1. J.W. Toigo, Scientific American, May, 58 (2000)
2. H. Shin, J.-H. Lee, K. Lee, W. K. Moon, J. U. Jeon, G. Lim, Y. Pak, J. H. Park, and K. H. Yoon, IEEE Transactions on Ultrasonics, Ferroelectrics, and Frequency Control 47, 801 (2000).
3. H. J. Mamin, B. D. Terris, L. S. Fan, S. Hoen, R. C. Barrett, and D. Rugar, IBM J. Res. Develop. 39(6), 681 (1995).
4. M. Despont, J. Brugger, U. Drescher, U. Durig, W. Haberle, M. Lutwyche, H. Roithuisen, R. Widmer, H. Rohrer, G.K. Binnig, and P. Vettiger, IEEE Int. Micro Electro Mechanical Systems Tech. Dig., 564 (1999).
5. J. F. Scott and C. A. Paz De Araujo, Science 246, 1400 (1989).