An Evaluation of Single Event Effects by Heavy Ion Irradiation on Atom Switch ROM/FPGA

Author:

Takeuchi K.,Tada M.,Sakamoto T.,Kuboyama S.

Publisher

Springer International Publishing

Reference27 articles.

1. Van Allen, J.A., McIlwain, C.E., Ludwig, G.H.: Radiation observations with satellite 1958 ε. J. Geophys. Res. 64(3), 271–286 (1959)

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3. SPENVIS—Space environment, effects, and education system. https://www.spenvis.oma.be/

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5. Pellish, J.: Single-event and total dose testing for advanced electronics. IEEE NSREC short course (2012)

Cited by 1 articles. 订阅此论文施引文献 订阅此论文施引文献,注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献,订阅后可以查看论文全部施引文献

1. Advanced Technologies in Radiation Research;Radiation Research;2024-03-08

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