1. Neben den S. 45 genannten, allgemeinen Darstellungen sind zu erwähnen: Röntgenoskopie und Elektronoskopie kolloider und verwandter Systeme (mit Beiträgen von Schiebold, E., Brill, R., Fricke, R., Halle, F., Astbury, W. T., Hofmann, U., Saupe, E., Wever, F., Rupp, E., und Trillat, J. J.), Z. Kolloidchem. 69, 264 (1934).
2. Kratky, O., Über die Untersuchung von mikroskopischen Kristallen mit Röntgenstrahlen, Z. Kristallogr. [A] 73, 567 (1930)
3. Kratky, O., Über die Untersuchung von mikroskopischen Kristallen mit Röntgenstrahlen, Z. Kristallogr. [A]76, 261, 517 (1930). (Entwicklung einer Sondermethode, die Untersuchung von Kristallen mit Abmessungen von der Grössenordnung 1 bis 10 µ zulassend.)
4. Lohrmann, O., und Osswald, E., Röntgenographisches Verfahren zur Bestimmung der Orientierung einzelner Kristallite im Haufwerk, Z. Kristallogr. [A] 103, 111 (1940). (Verfahren zur Untersuchung einzelner Kristalle oder Kristallgruppen im Verband des Haufwerks.)
5. Becker, K., Der röntgenogr aphis che Nachweis von Kornwachstum und Vergütung in Wolframdrähten mittels des Debye-Scherrer-Verfahrens, Z. Physik 42, 226 (1927). (Kennzeichnung des Gerlach- und van Arkel-Effekts und seiner Bedeutung für Untersuchungen des Kristallzustandes.)