Random Telegraph Noise in Flash Memories
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Springer International Publishing
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http://link.springer.com/content/pdf/10.1007/978-3-030-37500-3_6
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1. Discrete-Trap Effects on 3-D NAND Variability – Part II: Random Telegraph Noise;IEEE Journal of the Electron Devices Society;2024
2. Discrete-Trap Effects on 3-D NAND Variability – Part I: Threshold Voltage;IEEE Journal of the Electron Devices Society;2024
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