1. K. Tsunoda, K. Kinoshita, H. Noshiro, Y. Yamazaki, T. Iizuka, Y. Ito, A. Takahashi, A. Okano, Y. Sato, T. Fukano, M. Aoki, Y. Sugiyama, in Tech. Dig.—Int. Electron Devices Meet. (2007), p. 767
2. M.J. Lee, Y. Park, B.S. Kang, S.E. Ahn, C. Lee, K. Kim, W. Xianyu, G. Stefanovich, J.H. Lee, S.J. Chung, Y.H. Kim, C.S. Lee, J.B. Park, I.G. Baek, I.K. Yoo, in Tech. Dig.—Int. Electron Devices Meet. (2007), p. 771
3. S. Muraoka, K. Osano, Y. Kanzawa, S. Mitani, S. Fujii, K. Katayama, Y. Katoh, Z. Wei, T. Mikawa, K. Arita, Y. Kawashima, R. Azuma, K. Kawai, K. Shimakawa, A. Odagawa, T. Takagi, in Tech. Tech. Dig.—Int. Electron Devices Meet. (2007), p. 779
4. B.J. Choi, S. Choi, K.M. Kim, Y.C. Shin, C.S. Hwang, S.Y. Hwang, S. Cho, S. Park, S.-K. Hong, Appl. Phys. Lett. 89, 012906 (2006)
5. D.C. Kim, S. Seo, S.E. Ahn, D.-S. Suh, M.J. Lee, B.-H. Park, I.K. Yoo, Appl. Phys. Lett. 88, 202102 (2006)