Depth-Four Threshold Circuits for Computer-Assisted X-ray Diagnosis

Author:

Albrecht A.,Hein E.,Steinhöefel K.,Taupitz M.,Wong C. K.

Publisher

Springer Berlin Heidelberg

Reference8 articles.

1. A. Albrecht, K. Steinhöfel, M. Taupitz, and C.K Wong. Logarithmic Simulated Annealing for Computer-Assisted X-ray Diagnosis. To appear in Artificial Intelligence in Medicine.

2. Lect Notes Comput Sci;A. Albrecht,2000

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