Experimental Evaluation of Parasitic Bipolar Effects and Mechanical Stress Effects in SOI-Power-MOSFETs
Author:
Affiliation:
1. Graduate School of Science and Engineering, Kagoshima University
2. Graduate School of Engineering, Kyushu Institute of Technology
Publisher
Japan Institute of Electronics Packaging
Subject
Electrical and Electronic Engineering
Link
https://www.jstage.jst.go.jp/article/jiep/25/1/25_JIEP-D-21-00007/_pdf
Reference16 articles.
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