1. 1) T. Tou, Y. Hamaguti, Y. Maida, H. Yamamori, K. Takahashi and Y. Terashima, Jpn. J. Appl. Phys., 48, 07GM03 (2009).
2. 2) X. Yan, K. H. Lam, X. Li, R. Chen, W. Ren, X. Ren, Q. Zhou and K. K. Shung, IEEE Trans. Ultrason. Ferroelectr. Freq. Control, 60, 1272–1276 (2013).
3. 3) H. J. Lee, S. O. Ural, L. Chen, K. Uchino and S. Zhang, J. Am. Ceram. Soc., 95, 3383–3386 (2012).
4. 4) K. Carl and K. H. Hardtl, Ferroelectrics, 17, 473–486 (1977).
5. 5) T. R. Shrout and S. J. Zhang, J. Electroceram., 19, 111–124 (2007).